Tekeli, Z. Et Al. 2006. Al0.52Ga0.48N Schottky fotodedektör yapısının tavlama sıcaklığına göre yüzey pürüzlülüğünün AFM ile incelenmesi . 13. Yoğun Madde Fiziği , (Ankara, Turkey), 124.

Tekeli, Z., Çörekçi, S., Özkaya, S., Usanmaz, D., Çakmak, M., Özçelik, S., ... Özbay, E.(2006). Al0.52Ga0.48N Schottky fotodedektör yapısının tavlama sıcaklığına göre yüzey pürüzlülüğünün AFM ile incelenmesi . 13. Yoğun Madde Fiziği (pp.124). Ankara, Turkey

Tekeli, Z. Et Al. "Al0.52Ga0.48N Schottky fotodedektör yapısının tavlama sıcaklığına göre yüzey pürüzlülüğünün AFM ile incelenmesi ," 13. Yoğun Madde Fiziği, Ankara, Turkey, 2006

Tekeli, Z. Et Al. "Al0.52Ga0.48N Schottky fotodedektör yapısının tavlama sıcaklığına göre yüzey pürüzlülüğünün AFM ile incelenmesi ." 13. Yoğun Madde Fiziği , Ankara, Turkey, pp.124, 2006

Tekeli, Z. Et Al. (2006) . "Al0.52Ga0.48N Schottky fotodedektör yapısının tavlama sıcaklığına göre yüzey pürüzlülüğünün AFM ile incelenmesi ." 13. Yoğun Madde Fiziği , Ankara, Turkey, p.124.

@conferencepaper{conferencepaper, author={Z. Tekeli Et Al. }, title={Al0.52Ga0.48N Schottky fotodedektör yapısının tavlama sıcaklığına göre yüzey pürüzlülüğünün AFM ile incelenmesi }, congress name={13. Yoğun Madde Fiziği}, city={Ankara}, country={Turkey}, year={2006}, pages={124} }