FPGA Üzerinde Yüksek Hassasiyetli Lazer Tespit Sistemi ve Yöntemi

Bilge H. Ş.

Patent, BÖLÜM G Fizik, Buluşun Tescil No: 2023 009149 , Standart Tescil, 2024, Tescil Edildi

• Fikri Mülkiyet: Patent
• Başvuru Yapılan Ülke/Kuruluş: Türkiye
• Buluşun Durumu: Tescil Edildi
• Başvuru Tarihi: 1.08.2023
• Tescil Tarihi: 22.04.2024