FPGA Üzerinde Yüksek Hassasiyetli Lazer Tespit Sistemi ve Yöntemi
Patent, BÖLÜM G Fizik, Buluşun Tescil No: 2023 009149 , Standart Tescil, 2024, Tescil Edildi
- Fikri Mülkiyet: Patent
- Başvuru Yapılan Ülke/Kuruluş: Türkiye
- Buluşun Durumu: Tescil Edildi
- Başvuru Tarihi: 1.08.2023
- Tescil Tarihi: 22.04.2024