On the profile of frequency dependent interface states and series resistance in Al/SiO2/P-Si (MisStructure)


SAĞLAM S. , TAŞÇIOĞLU İ., ÖZBAY A.

5. Uluslararası Bilim Teknik Konferansı: Fiziğin Güncel Problemleri, 25 June 2008 - 27 June 2018

  • Publication Type: Conference Paper / Full Text