The determination of energy density distribution profile of interface states in Al SiO2 p Si MOS structures

ŞAFAK ASAR Y., ALTINDAL Ş., Sönmez Z., KAYA A.

Türk Fizik Derneği 27. Uluslararası Fizik Kongresi, 14 - 17 Eylül 2010

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Gazi Üniversitesi Adresli: Evet