The Temperature Dependent Characteristics of Al HfO2 p Si structure using different oxide thickness

---

DEMİR M., KARADUMAN I., BARİN Ö., YILDIZ D. E., ACAR S.

1sth International Conference On Organic Electronic Material Technologies (OEMT-2015), 25 - 28 Mart 2015, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Gazi Üniversitesi Adresli: Evet