The determination of energy density distribution profile of interface states in Al SiO2 p Si MOS structures

---

ŞAFAK ASAR Y., ALTINDAL Ş., Sönmez Z., KAYA A.

Türk Fizik Derneği 27. Uluslararası Fizik Kongresi, 14 - 17 Eylül 2010, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Gazi Üniversitesi Adresli: Evet