Au TiO2 SiO2 n Si MIS Yapısının Eş Püskürtme Tekniği ile Kaplanması ve Elektriksel Özelliklerinin Tavlama Sıcaklığına Göre Değişiminin İncelenmesi

Efkere H. İ. , Sertel T., Çetin S. Ş. , Özçelik S.

22. Yoğun Madde Fiziği Ankara Toplantısı, Ankara, Türkiye, 16 Aralık 2016

  • Basıldığı Şehir: Ankara
  • Basıldığı Ülke: Türkiye