The Dislocation and Correlation Lengths’s Determination of the Ti, Si, Au and ZnO Layers on Ge with the Help of the Peak Profile

Dervişoğlu H. C., Bayal Ö., Doğruer S., Öztürk M. K., Özçelik S.

24. Yoğun Madde Fiziği Ankara Toplantısı, Ankara, Türkiye, 21 Aralık 2018, ss.34, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Ankara
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.34
  • Gazi Üniversitesi Adresli: Evet