The Dislocation and Correlation Lengths’s Determination of the Ti, Si, Au and ZnO Layers on Ge with the Help of the Peak Profile


Dervişoğlu H. C. , Bayal Ö., Doğruer S., Öztürk M. K. , Özçelik S.

24. Yoğun Madde Fiziği Ankara Toplantısı, Ankara, Türkiye, 21 Aralık 2018, ss.34

  • Basıldığı Şehir: Ankara
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.34