Testing Au, Ti and ZnMnO Metal and Alloys on Ge as a Buffer Layer For Opto-Electronic Devices


Akpınar Ö., Özen Y. , Gültekin A., Durmaz Y., Baran V., Öztürk M. , ...Daha Fazla

Turkish Physical Society 33th International Physics Congress (TFD33), Muğla, Türkiye, 6 - 10 Eylül 2017

  • Basıldığı Şehir: Muğla
  • Basıldığı Ülke: Türkiye