Effect of thermal annealing on the structural properties of TiO2 thin film prepared by RF sputtering


Çetin S. Ş. , Asar T. , Özçelik S.

Azerbaijan Journal of Physics, Fizika, cilt.16, sa.2, ss.250-253, 2010 (Diğer Kurumların Hakemli Dergileri)

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 16 Konu: 2
  • Basım Tarihi: 2010
  • Dergi Adı: Azerbaijan Journal of Physics, Fizika
  • Sayfa Sayıları: ss.250-253