Effect of thermal annealing on the structural properties of TiO2 thin film prepared by RF sputtering
Azerbaijan Journal of Physics, Fizika, cilt.16, sa.2, ss.250-253, 2010 (Hakemli Dergi)
- Yayın Türü: Makale / Tam Makale
- Cilt numarası: 16 Sayı: 2
- Basım Tarihi: 2010
- Dergi Adı: Azerbaijan Journal of Physics, Fizika
- Derginin Tarandığı İndeksler: Other Indexes
- Sayfa Sayıları: ss.250-253
- Gazi Üniversitesi Adresli: Evet