Synthesis and Characterization of Al2O3 Thin Film By Using Atomic Layer Deposition

ÇOLAK T., KUPA İ., ÖZKAN Ö. B., ÜNAL Y., EFKERE H. İ., POLAT GÖNÜLLÜ M., ...Daha Fazla

8th International Advanced Technologies Symposium, 19 - 22 Ekim 2017, (Tam Metin Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Gazi Üniversitesi Adresli: Evet