Synthesis and Characterization of Al2O3 Thin Film By Using Atomic Layer Deposition

---

ÇOLAK T., KUPA İ., ÖZKAN Ö. B., ÜNAL Y., EFKERE H. İ., POLAT GÖNÜLLÜ M., ...Daha Fazla

8th International Advanced Technologies Symposium, 19 - 22 Ekim 2017, (Tam Metin Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Gazi Üniversitesi Adresli: Evet