Synthesis and Characterization of Al2O3 Thin Film by using Atomic Layer Deposition

---

çolak t., kupa i., özkan ö. b., ünal Y., efkere H. İ., ORHAN A., ...Daha Fazla

8th international Advanced technologies symposium, 19 Ekim - 22 Aralık 2017, (Tam Metin Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Gazi Üniversitesi Adresli: Evet