Synthesis and Characterization of Al2O3 Thin Film by using Atomic Layer Deposition

çolak t., kupa i., özkan ö. b., ünal Y., efkere H. İ., ORHAN A., ...Daha Fazla

8th international Advanced technologies symposium, 19 Ekim - 22 Aralık 2017

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Gazi Üniversitesi Adresli: Evet