Islak AĢındırma Tekniği Kullanılarak Hazırlanan Si-katkılı GaAs yüzeyinin AFM Analizi
14. YOĞUN MADDE FİZİĞİ TOPLANTISI, Ankara, Türkiye, 02 Kasım 2007, ss.55, (Özet Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
- Basıldığı Şehir: Ankara
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Sayfa Sayıları: ss.55
- Gazi Üniversitesi Adresli: Evet