Islak AĢındırma Tekniği Kullanılarak Hazırlanan Si-katkılı GaAs yüzeyinin AFM Analizi

Usanmaz D., Özkaya S., Ulu Y., Mammadov T., Çakmak M., Özçelik S.

14. YOĞUN MADDE FİZİĞİ TOPLANTISI, Ankara, Türkiye, 02 Kasım 2007, ss.55

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Ankara
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.55
  • Gazi Üniversitesi Adresli: Evet