Tezin Türü: Yüksek Lisans
Tezin Yürütüldüğü Kurum: Gazi Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Türkiye
Tezin Onay Tarihi: 2013
Öğrenci: YUNUS ÇAT
Danışman: SÜLEYMAN ÖZÇELİK
Özet:Bu çalışmada, katkısız ve katkılı (Sb) Ge tek kristalleri Czochralski (CZ) büyütme tekniği ile büyütüldü. (111) yönelimli büyütülen Ge tek kristallerin yapısal ve optik özellikleri yüksek çözünürlüklü X-ışını kırınımı (HRXRD), Fourier dönüşümlü kızılötesi spektroskopi (FTIR) ve spektroskopik elipsometre (SE) analiz yöntemleri ile karakterize edildi. Katkısız ve Sb katkılı Ge tek kristaller için HRXRD ölçümlerinden elde edilen -2 X-ışını kırınım desenlerinden kristallerin (111) yöneliminde büyüdüğü görüldü ve örgü parametresi bulundu. FTIR analizleri sonucunda 2-12 μm aralığında optik geçirgenliğin >%45 olduğu görüldü. SE analiz yöntemiyle kristallerin kırılma indisi ve yasak enerji aralığı bulundu. Tüm bu sonuçlarla üretilen Ge tek kristallerin kızıl ötesi sistemlerde mercek veya optik pencere kullanımına uygun olduğu görüldü.