Akademik Veri Yönetim Sistemi
Tezin Türü: Doktora
Tezin Yürütüldüğü Kurum: Gazi Üniversitesi, Eğitim Bilimleri Enstitüsü, Türkiye
Tezin Onay Tarihi: 2020
Tezin Dili: Türkçe
Öğrenci: SİBEL ADA
Danışman: İSMAİL KARAKAYA
Özet:Araştırmanın amacı gelişimsel değişimleri incelemede kullanılabilen üç farklı yöntem olan panel veri analizi, hiyerarşik lineer modelleme ve örtük gelişim modelleme analizlerinin karşılaştırılmasıdır. Tekrarlı ölçüm sayısı üç olarak alınmıştır. Farklı örneklem büyüklüğünde (100, 250, 500, 1000, 15000) ve farklı gelişim düzeylerinde (0,2; 0,5; 0,8) bu üç yöntemin hata değerleri karşılaştırılarak hangi koşullarda hangi yönteminin kullanılmasının uygun olacağı konusunda bilgi vermek amaçlanmaktadır. Ayrıca çalışmada veri toplamak amacıyla eleştirel düşünme becerisine yönelik bir ölçme aracı geliştirilmiş ve eleştirel düşünme becerisine etki eden değişkenler incelenmiştir. Bu araştırma, simülasyona dayalı bir yöntem karşılaştırma çalışmasıdır. Çalışma grubunu 2017-2018 bahar döneminde devlet üniversitesinde öğrenim gören 666 öğretmen adayı oluşturmaktadır. Verilerin toplanmasında araştırmacı tarafından geliştirilen Eleştirel Düşünme Becerisi Belirleme Ölçeği kullanılmıştır. Gelişimsel modellerin incelenmesinin amaçlandığı bu çalışmada ilk ölçümler geliştirilen ölçek ile alınmış ve diğer zaman noktalarına ait ölçümler koşullar dikkate alınarak simüle edilmiştir. Simülasyonda kullanılan parametreler gerçek veri ölçümlerinden elde edilmiştir. Verilerin üretilmesinde RStudio “simstudy” paketi kullanılmıştır. Verilerin analizinde r programı RStudio arayüzü kullanılmıştır. Panel veri analizi için “plm” paketi, hiyerarşik lineer modelleme için “nlme” paketi ve örtük gelişim modelleme için “lavaan” paketi kullanılmıştır. Analiz edilecek veri iki düzeye sahip olup birinci düzeyde bireylere ait tekrarlı ölçümler ve ikinci düzeyde ise öğrenci özellikleri yer vi almaktadır. Araştırma sonucunda örneklem büyüklüğü artıkça hiyerarşik lineer modelleme ve panel veri analizi için mutlak hata değerlerinin fazla değişmediği ancak örtük gelişim modelleme analizi için mutlak hata değerlerinin belirgin şekilde azaldığı tespit edilmiştir. Gelişim büyüklüğü arttıkça ise panel veri analizi ve hiyerarşik lineer modelleme analizinde mutlak hata değerlerinde çok az miktarda bir düşüş olduğu belirlenmiştir. Örtük gelişim modelleme analizinde ise gelişim büyüklüğü 0,5 iken en az mutlak hata değeri saptanmıştır. Örtük gelişim modelleme analizine ilişkin mutlak hata değerleri hiyerarşik lineer modelleme analizine ilişkin mutlak hata değerlerinden ve hiyerarşik lineer modelleme analizine ilişkin mutlak hata değerleri panel veri analizine ilişkin mutlak hata değerlerinden daha düşüktür