Al0.47Ga0.53N SCHOTTKY FOTODEDEKTÖR YAPININ OPTİK VE MORFOLOJİK ÖZELLİKLERİ


Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Gazi Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2010

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: Mehmet ŞEFTALİCİ

Danışman: MEHMET ÇAKMAK

Özet:

Bu tez çalışmasında, Al0.47Ga0.53N üçlü alaşımının oda sıcaklığında, 700, 800, 900, 950 0 C' de 240 sn tavlama işlemleri uygulanarak, yüzey morfolojisi ve PL spektrumundaki değişim incelenmiştir. Her bir tavlama işleminden sonra alaşımın karakterizasyonu için Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ve Fotolüminesans (PL) teknikleri kullanıldı. Tavlama sıcaklığına bağlı olarak yüzey pürüzlülüğü önemli ölçüde azaldı ve PL şiddetinde de tavlamaya bağlı olarak önemli bir artış gözlendi.