KRİYOJENİK İŞLEM GÖRMÜŞ VE GÖRMEMİŞ D2 TAKIM ÇELİKLERİNİN EDM İLE İŞLENEBİLİRLİKLERİNİN İNCELENMESİ


Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Gazi Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2022

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: Eda KARADAĞ

Danışman: Hakan Gürün

Özet:

Yapılan bu çalışmada, kriyojenik olarak ısıl işlem görmüş ve görmemiş AISI D2 takım çeliklerinin elektro erozyon işlemi (EDM) ile işlenebilirlikleri deneysel olarak incelenmiştir. Deney numuneleri ticari olarak elde edilmiş ve numunelerden biri ≈ 203 K de kriyojenik işleme tabii tutulmuştur. Elektro erozyon işlemi (EDM) parametreleri olarak akım (4A, 8A, 16A) ve vurum seviyesi (2, 5, 8) seçilmiştir. Bu parametrelerin, Takım aşınma oranı (TWR) değerine ve boyutsal doğruluğuna etkileri incelenmiştir. Ayrıca, akım ve vurum sürelerinin yüzey durumuna etkisi taramalı elektron mikroskopu (SEM) görüntüleri yardımıyla yorumlanmıştır. Buna ek olarak, parametrelerin etkileşimlerini daha net görebilmek için Varyans analizi (ANOVA) gerçekleştirilmiştir. İşlem parametrelerinin 3 boyutlu grafikleri MATLAB yazılımında oluşturulmuştur. Çaptan sapma (OC) değerinin ölçümünde üç boyutlu koordinat ölçme cihazı (CMM) kullanılmıştır. İşleme süresi (T) ve takım aşınma oranı (TWR) açısından değerlendirildiğinde en etkili parametrenin akım olduğu görülmüştür. Çaptan sapma değerlerinde (OC) ise vurum süresinin akıma göre daha etkili bir parametre olduğu tespit edilmiştir. Taramalı elektron mikroskopu (SEM) görüntülerinde kriyojenik olarak ısıl işlem görmüş numunelerde, çatlakların belirgin bir biçimde görülebildiği ve çatlak boylarının ölçülebildiği, akım 4A vurum seviyesinin (Ton) 5 olduğu koşulda, çatlak yoğunluğunda %64 oranında azaldığı tespit edilmiştir. Kriyojenik ısıl işlemin bu malzemenin elektro erozyon işlemi (EDM) ile işlenmesi öncesinde uygulanmasının uygun bir yöntem olduğu belirlenmiştir. 

Anahtar Kelimeler : Elektro erozyon işlemi (EDM), Kriyojenik işlem, AISI D2 takım çeliği, Varyans analizi (ANOVA), Boyutsal doğruluk, Çaptan sapma (OC).