Si(111)- (7x7) yüzeyinin değişik sıcaklıklarda STM ile incelenmesi
Tezin Türü: Yüksek Lisans
Tezin Yürütüldüğü Kurum: Gazi Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, FİZİK ANABİLİM DALI, Türkiye
Tezin Onay Tarihi: 2006
Tezin Dili: Türkçe
Öğrenci: CAN ALAŞALVAR
Danışman: GÖKAY UĞUR
Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
Özet:Bu çalışmada, Taramalı Tünellemeli Mikroskop (STM) kullanılarak Si(111) -7x7 numunesinin değişik sıcaklıklarda (25â¦C, -155â¦C ve 327â¦C) yüzey değişimiincelendi. ğne olarak elektrokimyasal yolla elde edilen tungsten uç kullanıldı.Bu numune 1250 ºC sıcaklıkta ve 2x10-10 mbar basınçta içinden bir DC elektrikakımı geçirilerek ısıtıldı ve ani akımla temizlendi. Örnek sıcaklığı bir kızıl ötesipyrometre ile ölçüldü. Yeniden yapılanan Si(111)-(7x7) yüzeyi doğrudan akımlaısıtma yöntemiyle hazırlandı. STM sonuçları deneysel sonuçlarlakarşılaştırıldı.