GexSi1-xO2 alaşımlarının; yapısal, elektronik, elastik ve optiksel özelliklerinin incelenmesi


Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Gazi Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2019

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: ORKUN SARIARSLAN

Danışman: MUSTAFAKEMAL ÖZTÜRK

Özet:

Bu tez çalışmasında, GexSi1-xO2 alaşımlarının yapısal, elektronik, elastik, optik ve dinamiksel özellikleri yoğunluk fonksiyonel teorisindeki (DFT) ab initio metodu ile GGA yaklaşımları kullanılarak incelendi. Hesaplamalarda ab initio kod olarak CASTEP programı kullanıldı. Alaşım ve bileşiklerin kararlı fazda örgü sabitleri, hücre hacmi, bulk modülü, band aralığı, dielektrik fonksiyonları, kırılma indisi, soğurma katsayısı ve elastik sabitleri hesaplandı. Elde edilen bulgular mevcut deneysel ve teorik değerlerle karşılaştırıldı. Kullanılan yöntemin alaşımların özelliklerini belirlemede doğru sonuçlar verdiği görüldü.