Analyze of Defects in InGaAs epilayer with High resolution X ray diffraction
FİZİKA, cilt.1, ss.179-183, 2008 (Hakemli Dergi)
- Yayın Türü: Makale / Tam Makale
- Cilt numarası: 1
- Basım Tarihi: 2008
- Dergi Adı: FİZİKA
- Sayfa Sayıları: ss.179-183
- Gazi Üniversitesi Adresli: Hayır