Analyze of Defects in InGaAs epilayer with High resolution X ray diffraction

Lişesivdin B.

FİZİKA, cilt.1, ss.179-183, 2008 (Hakemli Dergi)

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 1
  • Basım Tarihi: 2008
  • Dergi Adı: FİZİKA
  • Sayfa Sayıları: ss.179-183
  • Gazi Üniversitesi Adresli: Hayır