Al0.52Ga0.48N Schottky fotodedektör yapısının tavlama sıcaklığına göre yüzey pürüzlülüğünün AFM ile incelenmesi

---

Tekeli Z., Çörekçi S., Özkaya S., Usanmaz D., Çakmak M., Özçelik S., ...Daha Fazla

13. Yoğun Madde Fiziği, Ankara, Türkiye, 03 Kasım 2006, ss.124, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Şehir: Ankara
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Sayfa Sayıları: ss.124
• Gazi Üniversitesi Adresli: Evet