Al0.52Ga0.48N Schottky fotodedektör yapısının tavlama sıcaklığına göre yüzey pürüzlülüğünün AFM ile incelenmesi


Tekeli Z., Çörekçi S., Özkaya S., Usanmaz D., Çakmak M., Özçelik S., ...Daha Fazla

13. Yoğun Madde Fiziği, Ankara, Türkiye, 03 Kasım 2006, ss.124

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Ankara
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.124
  • Gazi Üniversitesi Adresli: Evet