Characterization of MoS2 thin films on SiO2/Si substrates prepared by sulfurization of sputtered Mo precursors
Turkish Physical Society 35th International Physics Congress (TFD 35), Muğla, Türkiye, 4 - 08 Eylül 2019, (Özet Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
- Basıldığı Şehir: Muğla
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Gazi Üniversitesi Adresli: Evet