Characterization of MoS2 thin films on SiO2/Si substrates prepared by sulfurization of sputtered Mo precursors

Erenler B., Akçay N., Tıvanov M., Özçelik S.

Turkish Physical Society 35th International Physics Congress (TFD 35), Muğla, Türkiye, 4 - 08 Eylül 2019

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Muğla
  • Basıldığı Ülke: Türkiye