The determination of frequency and applied bias voltage of electrical and dielectric properties of Al SiO2 p Si MOS structures


ALTINDAL Ş. , ŞAFAK ASAR Y. , SÖNMEZ Z., KAYA A.

Türk Fizik Derneği 27. Uluslararası Fizik Kongresi, 14 - 17 Eylül 2010

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri