The determination of frequency and applied bias voltage of electrical and dielectric properties of Al SiO2 p Si MOS structures

---

ALTINDAL Ş., ŞAFAK ASAR Y., SÖNMEZ Z., KAYA A.

Türk Fizik Derneği 27. Uluslararası Fizik Kongresi, 14 - 17 Eylül 2010, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Gazi Üniversitesi Adresli: Evet