The determination of frequency and applied bias voltage of electrical and dielectric properties of Al SiO2 p Si MOS structures

ALTINDAL Ş., ŞAFAK ASAR Y., SÖNMEZ Z., KAYA A.

Türk Fizik Derneği 27. Uluslararası Fizik Kongresi, 14 - 17 Eylül 2010

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Gazi Üniversitesi Adresli: Evet