Dielectric Properties of MOS Device Based on TiO2/SiO2 Oxide Layer

Cetın S. Ş., Efkere H. İ., Sertel T., Tataroğlu A., Özçelik S.

Seventh Bozok Science Workshop: Boron and Boron Containing Nanomaterials with Applications, Yozgat, Türkiye, 8 - 10 Ağustos 2018

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Yozgat
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Gazi Üniversitesi Adresli: Evet