Dielectric Properties of MOS Device Based on TiO2/SiO2 Oxide Layer

---

Cetın S. Ş., Efkere H. İ., Sertel T., Tataroğlu A., Özçelik S.

Seventh Bozok Science Workshop: Boron and Boron Containing Nanomaterials with Applications, Yozgat, Türkiye, 8 - 10 Ağustos 2018, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Şehir: Yozgat
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Gazi Üniversitesi Adresli: Evet