Quantitative Material Characterization and Imaging at Nanoscale using a New AFM Probe
International Symposium on Acoustical Imaging, Japonya, 15 - 18 Nisan 2007, cilt.29, ss.215-222, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Cilt numarası: 29
- Basıldığı Ülke: Japonya
- Sayfa Sayıları: ss.215-222
- Gazi Üniversitesi Adresli: Hayır