Yayınlar & Eserler

Yayın Ağı

SCI, SSCI ve AHCI İndekslerine Giren Dergilerde Yayınlanan Makaleler

Detailed analysis of the structural, morphological, optical, electrical, and dielectric properties of the reactively produced WO<sub>3</sub> nanostructure

Efkere H. İ., Özçelik S.
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS , cilt.34, sa.29, 2023 (SCI-Expanded) identifier identifier

Evaluation of dielectric properties of Au/TZO/n-Si structure depending on frequency and voltage

Kınacı B., Bairam C., Yalcin Y., Cokduygulular E., Çetinkaya Ç., Efkere H. İ., et al.
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS , cilt.33, sa.13, ss.10516-10523, 2022 (SCI-Expanded) identifier identifier

Investigation of the effect of annealing on the structural, morphological and optical properties of RF sputtered WO3 nanostructure

Efkere H. İ., Gumrukcu A. E., Özen Y., Kinaci B., Aydın S. Ş., Ates H., et al.
PHYSICA B-CONDENSED MATTER , cilt.622, 2021 (SCI-Expanded) identifier identifier

Design and fabrication of a semi-transparent solar cell considering the effect of the layer thickness of MoO3/Ag/MoO3 transparent top contact on optical and electrical properties

Çetinkaya Ç., Çokduygulular E., Kınacı B., Güzelçimen F., Özen Y., Efkere H. İ., et al.
Scientific Reports , cilt.11, sa.1, 2021 (SCI-Expanded) identifier identifier identifier

Evaluation on output parameters of the inverted organic solar cells depending on transition-metal-oxide based hole-transporting materials

Çetinkaya Ç., Çokduygulular E., Kınacı B., Güzelçimen F., Candan İ., Efkere H. İ., et al.
Optical Materials , cilt.120, 2021 (SCI-Expanded) identifier identifier

Structural, morphological, optical and electrical properties of the Ti doped-ZnO (TZO) thin film prepared by RF sputter technique

Bairam C., Yalçın Y., EFKERE H. İ., ÇOKDUYGULULAR E., ÇETİNKAYA Ç., Kınacı B., et al.
PHYSICA B-CONDENSED MATTER , cilt.616, 2021 (SCI-Expanded) identifier identifier

Investigations of some physical properties of ALD growth ZnO films: effect of crystal orientation on photocatalytic activity

Polat Gönüllü M., Cergel M. S., Efkere H. İ., Ateş H.
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS , cilt.32, sa.9, ss.12059-12074, 2021 (SCI-Expanded) identifier identifier

Effect of Annealing on the Surface Morphology and Current-Voltage Characterization of a CZO Structure Prepared by RF Magnetron Sputtering

KINACI B., ÇELİK E. G., ÇOKDUYGULULAR E., ÇETİNKAYA Ç., YALÇIN Y., EFKERE H. İ., et al.
SEMICONDUCTORS , cilt.55, sa.1, ss.28-36, 2021 (SCI-Expanded) identifier identifier

The effect of thickness on surface structure of rf sputtered TiO2 thin films by XPS, SEM/EDS, AFM and SAM

Guzelcimen F., Tanoren B., Cetinkaya C., Kaya M., Efkere H. İ., Özen Y., et al.
VACUUM , cilt.182, 2020 (SCI-Expanded) identifier identifier

Electrical Properties of MOS Capacitor with TiO2/SiO2 Dielectric Layer

Cetin S. Ş., Efkere H. İ., Sertel T., Tataroğlu A., Özçelik S.
SILICON , cilt.12, sa.12, ss.2879-2883, 2020 (SCI-Expanded) identifier identifier

Gas Sensing Properties of Cr Doped TiO2 Films Against Propane

Comert Sertel B., Efkere H. İ., Özçelik S.
IEEE SENSORS JOURNAL , cilt.20, ss.13436-13443, 2020 (SCI-Expanded) identifier identifier

Negative capacitance phenomena in Au/SrTiO3/p-Si heterojunction structure

Kınacı B., Çetinkaya Ç., Çokduygulular E., Efkere H. İ., Akın Sönmez N., Özçelik S.
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS , cilt.31, ss.8718-8726, 2020 (SCI-Expanded) identifier identifier

The effect of thickness on the optical, structural and electrical properties of ZnO thin film deposited on n-type Si

Efkere H. İ., Tataroğlu A., Cetin S. Ş., Topaloglu N., Gonullu M., Ateş H.
JOURNAL OF MOLECULAR STRUCTURE , cilt.1165, ss.376-380, 2018 (SCI-Expanded) identifier identifier

Efficiency improvement of quantum well solar cell with the AuGeNi metallization and Si3N4 ARC design

Asar T., Baskoese U. C., Kizilkaya K., Efkere H. İ., Ozcelik S.
PHILOSOPHICAL MAGAZINE , cilt.95, sa.34, ss.3809-3822, 2015 (SCI-Expanded) identifier identifier

Surface structure and photoluminescence properties of AZO thin films on polymer substrates

Akın Sönmez N., Özen Y., Efkere H. İ., Çakmak M., Özçelik S.
SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS , cilt.47, ss.93-98, 2015 (SCI-Expanded) identifier identifier

Diğer Dergilerde Yayınlanan Makaleler

MoO3 Arayüzey Tabakalı Metal/Yarıiletken Yapısının Düşük Frekans Değerleri için Dielektrik Özelliklerinin İncelenmesi

Özen Y., Efkere H. İ., Asar T., Özçelik S.
Gazi Üniversitesi Fen Fakültesi Dergisi , cilt.2, sa.1, ss.24-33, 2021 (Hakemli Dergi)

Investigation of the Structural, Morphological, Optical and Electrical Properties of In2O3 Thin Films: Gas Sensor Applications

Asar T., Korkmaz B., Efkere H. İ., Akın Sönmez N., Özçelik S.
JOURNAL OF POLYTECHNIC-POLITEKNIK DERGISI , cilt.21, ss.265-271, 2018 (ESCI) Creative Commons License identifier

Structural and Optical Properties of Reactive Sputtered ZnO Thin Films on Flexible-Transparent Substrates

Akın Sönmez N., Başköse Ü. C., Efkere H. İ., Sağlam S., Aydın S. Ş., Özçelik S.
GAZI UNIVERSITY JOURNAL OF SCIENCE , cilt.27, sa.4, ss.1111-1114, 2014 (Scopus) identifier identifier

Hakemli Kongre / Sempozyum Bildiri Kitaplarında Yer Alan Yayınlar

MgO İnce Filmin Yapısal ve Au/MgO/n-Si Diyotun Elektriksel Özelliklerinin İncelenmesi

Toprak B. Ç., EFKERE H. İ., TATAROĞLU A., AYDIN S. Ş., ÖZÇELİK S.
Yoğun Madde Fiziği – Ankara Toplantısı, Ankara, Türkiye, 22 Aralık 2023

MgO İnce Filmlerin Optik, Yapısal ve Morfolojik Özelliklerinin İncelenmesi

Toprak B. Ç., EFKERE H. İ., TATAROĞLU A., AYDIN S. Ş., ÖZÇELİK S.
100. Yıl Anısına Yoğun Madde Fiziği Çalıştayı, Ankara, Türkiye, 27 Ekim 2023

Investigation of the effect of annealing on the structural and optical properties of RF sputtered WO3 nanostructure for memristor applications

Efkere H. İ., Gümrükçü A. E., Özen Y., Kınacı B., Aydın S. Ş., Ateş H., et al.
3nd International Conference on Light and Light-based Technologies (ICLLT), Ankara, Türkiye, 25 - 27 Mayıs 2022, ss.95

Development of IR optical chopper disc by thermal evaporated ZnS thin films

Gümüşay Y. M., Efkere H. İ., Gözlekçi G., Başköse Ü. C., Cömert Sertel B., Dönmez Kaya M., et al.
2nd International Conference on Light and Light-Based Technologies (ICLLT-2), Ankara, Türkiye, 26 - 28 Mayıs 2021, ss.117

Nanostructured TiO2 Layers Thickness Dependence of the Surface Morphology and Acoustic Impedance

Bingöl D., Sirkeci M., Efkere H. İ., Özen Y., Dönmez Kaya M., Tanören B., et al.
Turkish Pyhsics Society, Muğla, Türkiye, 4 - 08 Eylül 2019, cilt.1, sa.1, ss.23-26

The Effect of Annealing on the Optical and Structural Properties of ZnO Thin Film Deposited on Corning Glass via ALD Technique

Efkere H. İ., Polat Gönüllü M., Özçelik S., Ateş H.
6th Internatıonal conference on materials science and nanotechnology for next generation (MSNG2019), 16 - 18 Ekim 2019

Synthesis and Characterization of Al2O3 Thin Film By Using Atomic Layer Deposition

ÇOLAK T., KUPA İ., ÖZKAN Ö. B., ÜNAL Y., EFKERE H. İ., POLAT GÖNÜLLÜ M., et al.
8th International Advanced Technologies Symposium, 19 - 22 Ekim 2017

n-GaP/Si Yapılarının Büyütülmesi ve Yapısal Analizleri

Pişkin E., Kurtuluş G., Kızılkaya K., Efkere H. İ., Asar T., Aydın S. Ş., et al.
19. Yoğun Madde Fiziği Kongresi, Ankara, Türkiye, 20 Aralık 2013

InGaAs/GaAs Süperörgü Yapılarının Optik Özelliklerinin Belirlenmesi

Efkere H. İ., Kurtuluş G., Pişkin E., Aydın S. Ş., Asar T., Karaaslan T., et al.
19. Yoğun Madde Fiziği Kongresi, Ankara, Türkiye, 20 Aralık 2013

Structural and optical properties of RF sputtered AZO thin films on different substrates

Aydın S. Ş., Asar T., Akın Sönmez N., Efkere H. İ., Pişkin E., Başköse Ü. C., et al.
Turkish Physical Society 30th International Physics Congress, İstanbul, Türkiye, 02 Eylül 2013

Dislocation densities comparison of the graded and ungraded InGaN solar cell structures

Özen Y., Şengüllü S., Kızılkaya K., Kınacı B., Efkere H. İ., Öztürk M. K., et al.
NanoTR-9, Erzurum, Türkiye, 24 - 28 Haziran 2013, ss.172

MBE tekniği ile büyütülen GaxIn1-xP/GaAs alaşımlarının kritik nokta enerjilerinin spektroskopik elipsometre ile incelenmesi

Aydın S. Ş., Kınacı B., Pişkin E., Efkere H. İ., Memmedli T., Özçelik S.
18. Yoğun Madde Fiziği Kongresi, Ankara, Türkiye, 25 Kasım 2011

Metrikler

Yayın

30

Atıf (WoS)

220

H-İndeks (WoS)

9

Atıf (Scopus)

237

H-İndeks (Scopus)

9